ICP-MS分析氧化鎢雜質元素優點

電感耦合等離子體質譜（ICP-MS）是八十年代迅速發展起來的一門新技術，高純氧化鎢中微量雜質元素用ICP-MS法測定能夠較準確的分析出其中的元素。它是採用電感耦合等離子體與高解析度、靈敏的四極質譜探測器聯用。ICP-MS與ICP-AES（電感耦合等離子體原子發射光譜法）在檢測方式上是不同的，前者檢測的是離子，後者檢測的是光子。

光子可通過攝譜或CCD（電荷耦合陣列檢測器）同時記錄，而離子在四極杆質譜計中，在某一時刻只能通過某一品質的離子，其他離子被四級杆吸收。確切地講ICP-MS不能叫同時測定，他是通過品質掃描控制器使不同質荷比的離子透過四級杆而先後被檢測的。ICP-MS與ICP-AES相比，具有以下優點：

①快速多元素定量分析，在5min內可分析週期表中包括氯、澳、碘在內的75種元素。②檢出限小於1ng·ml^-1，對稀上元素檢出限可小於1ng·ml^-1，一般來說，ICP-MS比ICP-AES檢出限要低2～3數量級。③快速半定量分析和定量分析。④同位素分析，同位素稀釋法和同位素比值測定法。⑤質譜譜圖簡單、干擾少，常見的天然同位素約有210條譜線，同位素最多的元素也不過10條，而發射光譜中有的元素如銥多達數千條。⑥噪音低，ICP-MS收到的雜散離子少於10個·S^-1。⑦動態線性範圍寬，對大多數元素都有5～6個數量級的動態範圍。

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