钨-镍合金与铅材料屏蔽性能比较
- 分类:钨业知识
- 发布于 2015年7月20日
- 点击数:1549
由于电离辐射对人体有损伤作用,过量的辐射照射会对人体产生危害。因此,在发展和利用核能与核技术的过程中对辐射安全与防护的问题给予特别的重视。传统的辐射防护材料是铅,然而随着核技术的广泛应用,在实践中人们发现:铅作为辐射防护材料有很多弊端,比如会产生二次韧致辐射,硬度比较差,同时铅本身是重金属污染源,很可能在使用过程中造成重金属中毒。因此,寻找一种安全可靠的防护材料对于从事放射性工作人员的安全至关重要。
如图所示,钨-镍合金与铅材料屏蔽性能比较。μ的大小与γ射线的能力及吸收介质密度ρ等因素有关。密度愈大,单位体积中原子、电子数越多,γ射线照射量率衰减得就愈快,γ射线线衰减系数μ就愈大。由图所示,钨-镍合金作为新型辐射材料于传统的铅屏蔽材料相比具有很多的优势,它不产生二次韧致辐射,硬度大而且同样的屏蔽效果厚度仅为铅的2/3,钨-镍合金是理想的替代铅的屏蔽材料。

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钨复合材料替代铅屏蔽
- 分类:钨业知识
- 发布于 2015年7月20日
- 点击数:1379
高密度材料在医疗器械、安检设备、航空航天及娱乐休闲等领域具有广泛的应用和发展潜力。特别是迅速发展的医疗领域和和核电领域,作为防高能射线屏蔽材料,高密度物质受更高的关注。
在高密度物质中,铅是广泛且成功应用于防辐射的材料。然而。铅在加工、运输与使用等过程中,都会有铅尘散发,产生潜在危害。因此,迫切需要一种环境友好、密度高的材料来替代铅材料。钨是一种化学性质很稳定的金属,密度高达19.4g/cm3,是理想的防辐射材料。但是钨金属硬度高、熔点高、脆等性质限制了其应用。钨复合材料是由两种物质混合而成的新兴材料: 聚合物作为填料,并与90%以上的钨粉混合,例如,97%的钨粉填充尼龙材料,最终产品的密度可高达13g/cm3。 因此,优化高密度含钨复合材料能够成为铅屏蔽材料的理想替代物,在于钨复合材料的高密度性质,可采用注塑的方法来加工,成本低、形状复杂,具有无可比拟的优势。

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Ho3+浓度对稀土掺杂钨酸钙:Ho3+/Yb3+多晶吸收光谱的影响2
- 分类:钨业知识
- 发布于 2015年7月20日
- 点击数:1718
以下为稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究中Ho3+浓度对Zn0.1Ca0.9WO4:Ho3+/Yb3+多晶吸收光谱的影响。
Zn0.1Ca0.9WO4:Ho3+/Yb3+多晶在300nm左右紫外吸收峰强度直线下降,可以把此处作为紫外吸收边。随着Ho3+离子掺杂浓度的不断提高,Zn0.1Ca0.9WO4:Ho3+/Yb3+多晶的紫外吸收边不断红移,但当Ho3+离子浓度达到2mol%时,吸收边逆转发生蓝移。此现象可由Zn0.1Ca0.9WO4多晶的晶格缺陷解释。根据第三章中对基质材料的分析,少量Zn2+离子的掺杂并没有改变CaWO4晶体原有的体心四方结构,Zn2+离子只是取代了晶格中Ca2+离子的位置。同样,掺杂Ho3+离子和Yb3+离子占据了Zn2+离子或Ca2+离子的位置,多余的正电荷由Zn2+离子或Ca2+离子的空位缺陷补偿。吸收边的移动与离子极化能力有关,不同离子的极化能力如表所示。

由表可以看出,Ho3+、Yb3+离子的极化能力比Zn2+离子和Ca2+离子强。稀土离子的掺杂使Zn0.1Ca0.9WO4多晶中WO42-基团极化度增加,电子云变形性增大,自由电子跃迁所需能量减少,因此自由电子更易发生跃迁产生红移现象;当Ho3+离子浓度过大时,会使Zn0.1Ca0.9WO4:Ho3+/Yb3+多晶内部能量急剧增加,自由电子被束缚在价带很难发生能级跃迁,因此吸收边发生蓝移。
Zn0.1Ca0.9WO4:Ho3+/Yb3+多晶的紫外吸收边先红移后蓝移,当Ho3+离子浓度为1.0mol%时,吸收边红移至最大,此时更易发生自由电子的能级跃迁,有利于上转换发光强度的提高。
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Ho3+浓度对稀土掺杂钨酸钙:Ho3+/Yb3+多晶吸收光谱的影响1
- 分类:钨业知识
- 发布于 2015年7月20日
- 点击数:1601
以下为稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究中Ho3+浓度对Zn0.1Ca0.9WO4:Ho3+/Yb3+多晶吸收光谱的影响。
固定Yb3+离子浓度为4mol%,掺杂不同Ho3+浓度的Zn0.1Ca0.9WO4:Ho3+/Yb3+多晶紫外-可见吸收光谱如图所示。

由图可知,Zn0.1Ca0.9WO4:Ho3+/Yb3+多晶的紫外-可见吸收光谱扫描范围为200~800nm。从图中可以看出,Zn0.1Ca0.9WO4:Ho3+/Yb3+多晶在452nm、545nm和649nm处有明显的吸收峰,这是Ho3+离子不同能级之间的电子跃迁产生的,分别对应Ho3+离子的5I8→5G6、5I8→5S2和5I8→5F5能级跃迁。
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稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究-XRD表征
- 分类:钨业知识
- 发布于 2015年7月20日
- 点击数:1421
以下为稀土掺杂钨酸钙多晶粉的制备及其上转换性能研究-稀土离子掺杂Zn0.1Ca0.9WO4样品XRD表征分析。
采用高温固相反应法制备了Zn0.1Ca0.9WO4:2mol%Tm3+/6mol%Yb3+、Zn0.1Ca0.9WO4:0.4mol%Ho3+/4mol%Yb3+和Zn0.1Ca0.9WO4:2mol%Tm3+/0.6mol% Ho3+/8mol% Yb3+等稀土离子掺杂的样品,并对所得样品进行X-射线衍射分析,XRD谱图如图所示。

由图可以看出,与钨酸钙标准PDF卡片对比,特征峰全部出现,并且没有出现杂峰,可见稀土离子及锌离子的掺杂并没有影响基质材料的体心四方结构。这是由于掺杂的稀土离子及锌离子用量较少,极化能力比钙离子大,且钙离子的半径比较大,这就导致晶胞大小没有发生大的改变,因而晶格结构没有发生变化。
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