半導體測試針用鎢針可以是採用錸鎢合金打造而成的合金探針，也可以是採用純鎢打造的純鎢探針。其中，錸鎢合金的接觸電阻比鎢稍高而抗疲勞性相似。此外，錸鎢合金的晶格結構比鎢更加緊密，所以錸鎢探針頂端的平面更加光滑。

為了降低晶圓測試成本，晶圓探測鎢針的回收利用很重要。在晶圓測試中，錐形的鎢針經過多次測試後開始磨損，導致針頭的直徑越變越大。此時，如果不將含鎢針的探測卡（晶圓測試的工具之一）換掉，會影響測試結果的準確性；而換掉，則會增加成本。對此，有研究人員提出一種對這種探針卡的鎢針的處理方法。

晶圓探針用什麼？晶圓探針用鎢針。鎢針可以用於積體電路晶圓測試的工具——探針卡的電路板上，又或者是探針臺上，主要是測試晶圓上每一個晶粒的電氣性能，看它們是否是依照設計規格製造出來的。

晶圓探針卡用什麼材料的探針？晶圓探針卡用鎢針。探針卡是一種用於晶圓測試的工具，通常由一測試電路板和位於電路板上的針尖彎折成95-105度的錐形鎢針構成。測試時，將鎢探針的針頭直接接觸被測晶圓的襯墊，從而實現對晶圓的電性能測試。